12月11日（水）に、ものづくりには欠かせない計測ツールである三次元座標測定機（CMM）について、(株)東京精密より講師をお招きし、誤差要因と幾何公差計測に関する講習会を開催しました。
「三次元測定機における誤差要因と最新の測定技術」と題したセッションでは、アッベ誤差やCMMの構造的な誤差要因について解説、「三次元測定機で測定する幾何公差」と題したセッションでは、様々な幾何公差の解説や計測時の注意点などが詳解されました。
受講者からは、「幾何公差の疑問点が確認できた。」「図面の見方がより理解できるようになった。」等のコメントをいただきました。
大分県産業科学技術センターでは、CMMをはじめとした精密測定技術の向上、３次元デジタルデータを活用した高効率・高精度なものづくりの支援を、研修などを通じて取り組んで参ります。
（機械担当　重光和夫）