| 機器番号 |
機器名 |
| C200 |
FT赤外分光光度計（H28.11.1から） |
| C201 |
Ｘ線回折装置 |
| C203 |
静荷重試験機 |
| C205 |
電界放出型走査電子顕微鏡（分析） |
| C206 |
電界放出型走査電子顕微鏡（観察） |
| C208 |
熱分析装置 |
| C209 |
Ｘ線分析顕微鏡 |
| C211 |
パウダテスター |
| C212 |
熱分解ガスクロマトグラフ質量分析装置 |
| C213 |
レーザー回折式粒度分布測定器 |
| C214 |
混練性･押出性試験装置 |
| C216 |
比表面積・細孔分布測定装置 |
| C217 |
Ｘ線光電子分光分析装置（ＸＰＳ/ＥＳＣＡ） |
| C218,C219 |
イオンクロマトグラフ（陽イオン, 陰イオン） |
| C220 |
イオンビームミリング装置（電子顕微鏡用試料作成装置） |
| C221 |
高周波プラズマ発光分析装置（ICP） |
| C222 |
低温プラズマ分解装置 |
| C223 |
マイクロサンプリングマシン |
| C225 |
マイクロ波分解前処理装置 |
| C226 |
誘導結合プラズマ質量分析装置 （ICP-MS/MS） |
| C227 |
紫外可視分光光度計 |
| C229 |
恒温恒湿器（H28.11.1から） |
| C230 |
卓上型pHメーター（H28.11.7から） |
| C231 |
実体顕微鏡システム（H29.3.1から） |
